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九域半導(dǎo)體科技(蘇州)有限公司
中級(jí)會(huì)員 | 第2年

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  • 非接觸霍爾遷移率

    在霍爾效應(yīng)傳感器中,自由電子的移動(dòng)能力通過遷移率來量化,這是衡量電子在材料中移動(dòng)難易程度的關(guān)鍵指標(biāo)。遷移率典型范圍一般在5至50平方厘米/伏秒之間詳情介紹?我公...

    型號(hào): 所在地:蘇州市參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2025/6/26 11:14:06 對(duì)比
    非接觸霍爾遷移率微波法電阻率半導(dǎo)體
  • 微波法霍爾遷移率

    在霍爾效應(yīng)傳感器中,自由電子的移動(dòng)能力通過遷移率來量化,這是衡量電子在材料中移動(dòng)難易程度的關(guān)鍵指標(biāo)。遷移率典型范圍一般在5至50平方厘米/伏秒之間

    型號(hào): 所在地:蘇州市參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2025/6/26 11:12:04 對(duì)比
    微波法非接觸霍爾遷移率半導(dǎo)體遷移率
  • 微波法少子壽命

    即少數(shù)載流子壽命。光生電子和空穴從一開始在半導(dǎo)體中產(chǎn)生直到消失的時(shí)間稱為壽命。載流子壽命就是指非平衡載流子的壽命。而非平衡載流子一般也就是非平衡少數(shù)載流子(因?yàn)?..

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    少子壽命渦流法非接觸式方阻電阻率
  • 表面光電壓JPV\SPV

    表面光電壓法(Surface Photovoltage Method,簡(jiǎn)稱SPV法)是通過測(cè)量由于光照在半導(dǎo)體材料表面產(chǎn)生的表面電壓來獲得少數(shù)載流子擴(kuò)散長(zhǎng)度的方...

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    表面光電壓儀JPV\SPVJPVSPV半導(dǎo)體方塊電阻
  • 遷移率(霍爾)測(cè)試儀

    霍爾遷移率(Hall mobility)是指?Hall系數(shù)RH與?電導(dǎo)率σ的乘積,即│RH│σ,具有遷移率的量綱?。其表達(dá)式為μH =│RH│σ。?12定義和計(jì)...

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    霍爾遷移率非接觸渦流法方阻渦流法電阻率
  • 光電少子壽命測(cè)試儀

    非接觸式無損方塊電阻測(cè)試儀、晶圓方阻測(cè)試儀,方阻測(cè)試儀,硅片電阻率測(cè)試儀,渦流法高低電阻率分析儀,晶錠電阻率分析儀,渦流法電阻率探頭和PN探頭測(cè)試儀,遷移率(霍...

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    少子壽命非接觸渦流法電阻率非接觸方阻光電無損
  • 霍爾遷移率測(cè)試儀

    霍爾遷移率測(cè)試儀主要利用微波測(cè)試原理,非接觸式測(cè)量射頻HEMT結(jié)構(gòu)半導(dǎo)體材料的方阻、遷移率及載流子濃度??蓪?shí)現(xiàn)單點(diǎn)測(cè)試,亦可以實(shí)現(xiàn)面掃描的測(cè)試功能,具有快速,無...

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    霍爾遷移率非接觸式渦流法方阻渦流法電阻率方阻
  • 遷移率少子壽命測(cè)試儀

    我司主營:晶圓電阻率測(cè)試儀,硅片電阻率測(cè)試儀,渦流法低電阻率分析儀,晶錠電阻率分析儀,遷移率(霍爾)測(cè)試儀,遷移率少子壽命測(cè)試儀。

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    晶圓方阻硅片電阻率遷移率測(cè)試儀渦流法電阻率測(cè)試儀少子壽命測(cè)試儀

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